JEITA 半導体部会
平成25年度 工業標準化事業表彰とIEC1906賞の表彰式が10月3日(木) に行われ、半導体部会より、若井氏、中山氏、市川氏、中島氏の4名が受賞されました。国際標準化活動に対してJEITAが果たした長年の貢献が認められたものであり、日本の大きな成果として受賞者の方々に対しお祝い申し上げます。
JEITAは、IEC（国際電気標準会議）において、経済産業省 日本工業標準調査会（JISC: Japanese Industrial Standards Committee）から35もの委員会の審議委託（審議団体引き受け）を受けています。その中のTC47（半導体デバイス）にも半導体部会から多くの委員が参画し、プロジェクトリーダーやエキスパートとして国際標準化業務に携わると共に、議長・幹事・コンビナといった重要な役割を担い、国際標準化活動に貢献しています。
「工業標準化事業表彰」は、IEC国際標準及び工業標準の普及活動に貢献したと認められる個人及び組織を毎年表彰し、その表彰には、内閣総理大臣表彰、経済産業大臣表彰、産業技術環境局長表彰があります。
また、「IEC1906賞」は、IEC専門業務における最近の業績を対象として、電気・電子技術の標準化及びその関連活動に大きな貢献を果たしたと評価される個人に授与される賞です。
以下、今回受賞されました4名の方を紹介します。
若井 伸之氏（株式会社 東芝）：IEC TC47/WG2,5 （半導体信頼性）
<受賞理由>
WG2（耐候性及び機械的試験）及びWG5（ウェハレベル信頼性試験）のエキスパート、コンビナを務め、半導体デバイスの品質信頼性の指標となる摩耗寿命又は故障率の見積もりに使用される重要な試験方法の日本提案による国際規格化を推進。また国際規格の開発過程において実施条件が異なる他国提案との衝突が頻発する中、共通内容の作成、選択肢の追加等を各国エキスパートに積極的に働きかけ、我が国提案が反映された国際規格化を実現する等多大な功績。
中山 雅央氏（パナソニック株式会社）：IEC SC47E/WG2 （マイクロ波半導体）
<受賞理由>
マイクロ波半導体の専門家として、マイクロ波個別半導体・マイクロ波集積回路分野の用語、測定方法の国際規格作成、追補、改訂に従事。また、高周波分野の測定技術に関する経験を基に、既存の測定方法の不十分な項目を明確化し、最適な測定方法を提案するなど、日本提案のIEC規格化を牽引。WG2での活発な活動はSC47E国際議長獲得にも寄与するなど個別半導体分野における我が国の主導権確保に多大な貢献。
市川 浩司氏（デンソー株式会社）:IEC SC47A (半導体集積回路)
<受賞理由>
プロジェクトリーダーとして、IEC/TS 62433-1, EMC IC Modelling, Part 1: General Modelling framework の国際標準化への貢献に対する功績。
中島 宏文氏（ルネサス エレクトロニクス株式会社）:IEC SC47D (半導体パッケージ)
<受賞理由>
プロジェクトリーダーとして、2006年から下記5件の国際標準規格を新規提案〜国際標準まで育成し、IEC活動に積極的に貢献したことに対する功績。
国際標準化4件(IEC 60191-6-17, IEC 60191-6-18, IEC 60191-6-19, IEC 60191-6-22) および 改正1件(IEC 60191-6-12)
今回受賞されました4名の方のこれまでの活動に敬意を表し、半導体部会としても受賞を共に喜びたいと思います。
JEITA標準化活動のご紹介:
http://www.jeita.or.jp/japanese/standard/pdf/jeita_standard.pdf
本件に関する詳細はこちらから:
（経済産業省）
http://www.meti.go.jp/press/2013/10/20131002001/20131002001.html
（IEC）
http://www.iec.ch/about/awards/1906/
